擊穿強度和儲能密度是 high-k 材料在實際應用中需要考察的重要參 數(shù)，具有廣泛的應用范圍[42, 46, 107, 108]。
 將測試結(jié)果利用 Weibull 分布進行分析。某時刻復合材料的擊穿強度為 E，我們 認為其 Weibull 統(tǒng)計分布符合式(1) 
P = 1 ? exp [? (? ( exp [? (

其中 P 表示的是在時間或者電壓 t 時試樣被擊穿的百分數(shù)；E 代表實驗測試得到材 料的擊穿強度；β 為 Weibull 分布的形狀參數(shù)，其值越大，擊穿電壓的變化范圍越??； E0 為失效概率為 0.632 時復合材料的擊穿強度。

下圖 給出了 EP 樹脂及復合材料的 Weibull 分布曲線及擊穿強度。大量研究表 明，加入導體會導致聚合物 Eb 大幅降低[41, 109-111]，而 EP/(PAN- LiOTf)復合材料的 Eb 高 于 EP 樹脂的值。0.22EP/(PAN- LiOTf)復合材料的交流和直流 Eb 為 41.9kV/mm 和 55.1kV/mm，是 EP 樹脂 Eb 的 1.8 倍和 1.7 倍，這對復合材料的實際應用具有重要的 意義[112]。
不同于傳統(tǒng)導體與聚合物基體較差的相容性， EP、PAN 和 LiOTf 三者具有良好 的相容性，使 EP/(PAN-LiOTf)復合材料因缺陷更少而不易擊穿。此外，減少漏電電流 可提高材料的擊穿強度[116]，PAN-LiOTf 不同于傳統(tǒng)導體的導電機制且 EP 的存在切斷 了 PAN -LiOTf 導電通路，減少了 PAN- LiOTf 相互接觸造成的漏電電流。